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测试服务

可靠性试验与测试

  上海华岭与合作伙伴一起根据集成电路产品的生命周期提供完善的芯片级可靠性试验与测试服务,我们拥有丰富的经验和专业团队,可为客户提供极佳的服务。

  

   

根据试验等级分为如下几类:
一、使用寿命测试项目(Life test items):  

EFR, OLT (HTOL), LTOL
①EFR:早期失效等级测试( Early fail Rate Test )
②HTOL/ LTOL:高/低温操作生命期试验(High/ Low Temperature Operating Life )

 
二、环境测试项目(Environmental test items)  

PRE-CON, THB, HAST, PCT, TCT, TST, HTST, Solder ability Test, Solder Heat Test
①PRE-CON:预处理测试( Precondition Test )
②THB: 加速式温湿度及偏压测试(Temperature Humidity Bias Test )
③高加速温湿度及偏压测试(HAST: Highly Accelerated Stress Test )
④PCT:高压蒸煮试验 Pressure Cook Test (Autoclave Test)
⑤TCT: 高低温循环试验(Temperature Cycling Test )
⑥TST: 高低温冲击试验(Thermal Shock Test )
⑦HTST: 高温储存试验(High Temperature Storage Life Test )
⑧可焊性试验(Solder ability Test )
⑨SHT Test:焊接热量耐久测试( Solder Heat Resistivity Test )

 
三、耐久性测试项目(Endurance test items )  

Endurance cycling test, Data retention test
①周期耐久性测试(Endurance Cycling Test )
②数据保持力测试(Data Retention Test)
依据标准:MIT-STD-883
  
我们的服务还包括:   

·试验报告
·数据追溯
·……

    

如需了解更详细资料,请联系 业务

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